其他產(chǎn)品及廠家

英國PEM 低頻羅氏線圈LFR
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差,超寬的頻帶范圍,使其可以測量被測信號的400次諧波(@45/65hz)。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應(yīng)曲線,有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔,使其有著更寬的動態(tài)測試范圍.
更新時間:2026-01-16
英國PEM交流電流探頭RCTi系列
rcti是工業(yè)級專用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線圈輸出實時的與測量電流相對應(yīng)的電壓。
更新時間:2026-01-16
英國PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟(jì)實用,使用簡單,性價比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu):纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán),讓您輕而易舉地與實際測量對象相連接。
更新時間:2026-01-16
電磁能量計,電磁智能能量計
電磁能量計,電磁智能能量計是一種基于法拉第電磁感應(yīng)定律,以高速處理器為核心的高精度、低壓損能量計量儀表。系列采用分體式設(shè)計,適用于遠(yuǎn)距離安裝、監(jiān)控,解決了采暖和中央空調(diào)在用戶范疇內(nèi)的熱量計量問題。流量傳感器、計算器各自沒有活動零部件,機(jī)械壽命長。
更新時間:2026-01-16
美國Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器(ct)提供準(zhǔn)確,無損(非接觸)的單或重復(fù)單或雙的測量 脈沖或連續(xù)波。
更新時間:2026-01-16
美國FCC電流探頭
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭,這些探頭能感應(yīng)耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號,當(dāng)用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍:10 khz to 200 mhz,轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2026-01-16
美國FCC電流鉗
特別高效的電流鉗(耦合系數(shù)小于7db),產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放,比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率,內(nèi)徑40mm,完全符合iec61000-4-6(gb/t 17626.6)的要求。
更新時間:2026-01-16
金屬導(dǎo)體電阻率測試儀
加工定制:是類型:指針式電阻測量儀表品牌:yaos堯順型號:dx200ghd測量范圍:10-5--105ω(mω)電 源:220±10%測試電壓:2 mv、20 mv、200 mv、2v(v)精度:0.1%重量:8.5(kg)尺 寸:345mm*480mm*145mm規(guī)格:φ30x180
更新時間:2026-01-16
PTL溫升測試角進(jìn)口測試角
ptl溫升測試角,進(jìn)口測試角,ptl溫度測試角,p06系列測試角
更新時間:2026-01-16
德國PTL插頭力矩試驗儀
更新時間:2026-01-16
德國PTL試驗彎指
更新時間:2026-01-16
LPDDR4替代驗證系統(tǒng) LPDVT-4000
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設(shè)計的性能驗證平臺,支持4266mbps高速測試,提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗證方案,重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時間:2026-01-16
服務(wù)器、PCIe5.0 CEM、U.2 SSD、轉(zhuǎn)接卡設(shè)計、信號質(zhì)量優(yōu)化、眼圖裕度、PCI-SIG規(guī)范
阿儀網(wǎng) pcie 5.0 轉(zhuǎn)接卡信號質(zhì)量綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向高速接口卡設(shè)計與驗證的專用平臺。該系統(tǒng)深度整合了高精度矢量網(wǎng)絡(luò)分析(vna)、多通道高速示波器及自動化眼圖掃描與分析軟件,提供從通道s參數(shù)建模到壓力眼圖測試的全套解決方案。它能夠評估轉(zhuǎn)接卡在32 gt/s速率下的插入損耗、回波損耗、阻抗連續(xù)性及眼圖裕量,幫助工程師快速定位設(shè)計缺陷,量化優(yōu)化效果,是確保轉(zhuǎn)接卡設(shè)計一次成功的關(guān)鍵工具
更新時間:2026-01-16
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2026-01-16
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2026-01-16
PCIe6.0、SI信號完整性、眼圖、抖動、誤碼率(BER)、PAM4調(diào)制、CTLE均衡、DFE均衡、FEC糾錯、S參數(shù)、TDR阻抗、串?dāng)_、去嵌技術(shù)、EMI電磁干擾、PCI-SIG規(guī)范、AI測試自動化
面對2026年以pcie 6.0為首的高速測試挑戰(zhàn),阿儀網(wǎng)推出 hyperlink pcie6-si pro一體化測試系統(tǒng)。本系統(tǒng)深度融合了高帶寬示波器、精密誤碼儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析模塊及自動化協(xié)議分析軟件,提供從物理層s參數(shù)建模、pam4眼圖/sndr分析、接收機(jī)壓力容限測試到協(xié)議一致性驗證的全套解決方案
更新時間:2026-01-16
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2026-01-16
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2026-01-16
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2026-01-16
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2026-01-16
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2026-01-16
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2026-01-16
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2026-01-16
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2026-01-16
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2026-01-16
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2026-01-16
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2026-01-16
TDR阻抗測試、串?dāng)_、S參數(shù)、基礎(chǔ)測試、接口驗證、PCIe6.0、USB4、HDMI2.1、SFP56、DDR5、MIPI C-PHY、224G Ethernet、、高速協(xié)議
阿儀網(wǎng) 高速接口綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向pcie, usb, 以太網(wǎng), mipi等主流高速接口的一站式驗證平臺。該系統(tǒng)深度融合了高性能矢量網(wǎng)絡(luò)分析(vna)、高帶寬采樣示波器? 及協(xié)議分析儀? 功能,提供從物理層tdr阻抗、s參數(shù)? 到協(xié)議一致性? 的全套測試能力,幫助研發(fā)與質(zhì)檢團(tuán)隊快速完成產(chǎn)品性能評估與故障定位
更新時間:2026-01-16
高頻測試、S參數(shù)、抖動、BER(誤碼率)、高速接口選型、PCIe6.0、USB4、HDMI2.1、SFP56、DDR5、MIPI C-PHY、224G Ethernet、信號完整性、技術(shù)選型指南
面對上述高速接口的測試挑戰(zhàn),阿儀網(wǎng)推出的 高速接口綜合測試系統(tǒng)? 是一款高度集成化的認(rèn)證級測試平臺。該系統(tǒng)深度融合了矢量網(wǎng)絡(luò)分析(vna)、高性能誤碼率測試(bert)? 和協(xié)議分析功能,旨在為客戶提供從物理層s參數(shù)建模、發(fā)射端信號質(zhì)量分析到接收端容限驗證的一站式解決方案
更新時間:2026-01-16
電子式聽漏棒
揚(yáng)州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質(zhì)上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進(jìn)的集成性上。
更新時間:2026-01-16
漏水探測儀數(shù)字濾波型
jt-5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路,,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實時漏水靈音,高靈敏主動式傳感器,光電無觸點手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2026-01-16
漏水探測儀高靈敏智能型
jt-1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機(jī)身。
更新時間:2026-01-16
手持式地下管道漏水檢測儀
jt-sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜,手持即可檢測,可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏,包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時間:2026-01-16
管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當(dāng)先進(jìn)技術(shù),其聽音效果清晰、適合復(fù)雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定,是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進(jìn)測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準(zhǔn)確定位泄漏點的位置。
更新時間:2026-01-16
供應(yīng)管道漏水檢測儀/自來水管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀,主機(jī)體積只有150mm×70mm×116mm大小,重約870克,攜帶操作為輕巧簡便,整體設(shè)計采用全金屬外殼,堅固耐用。
更新時間:2026-01-16
供應(yīng)管道測漏儀/漏水檢測儀/數(shù)字式漏水檢測儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器,也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏,當(dāng)管道內(nèi)流體在壓力下逸出時,產(chǎn)生噪音能沿管道傳播,或沿埋層介質(zhì)傳播到地面,檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。
更新時間:2026-01-16
供應(yīng)數(shù)字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實時漏水錄音,高靈敏主動式傳感器,光電無觸點手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2026-01-16
供應(yīng)地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜,手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當(dāng)某處破損泄漏時,壓力水油氣從管道破損處向處噴射,與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲,這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑?,此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號,通過主機(jī)進(jìn)行放大顯示,并有選擇的過濾噪音,獨立出泄漏聲波,使操作者找到泄漏源
更新時間:2026-01-16
供應(yīng)智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-1a地下管道泄漏檢測儀,是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器,擁有超強(qiáng)的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力,輸出泄漏信號清晰靈敏,操作界面目了然,可以使您的工作更加輕松,它具有以下主要特點:微處理器數(shù)字經(jīng)線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機(jī)身。
更新時間:2026-01-16
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-16
Nand Flash 眼圖測試, 時序測試,抖動測試 幅度測試操作細(xì)節(jié)
nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺,集成四大測試模塊,提供從基礎(chǔ)測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程,大幅提升測試效率和準(zhǔn)確性。
更新時間:2026-01-16
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時間:2026-01-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2026-01-16
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2026-01-16
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2026-01-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2026-01-16

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑