其他產(chǎn)品及廠家
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭，這些探頭能感應耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號，當用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2026-01-16
特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新時間:2026-01-16
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180
更新時間:2026-01-16
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設計的性能驗證平臺，支持4266mbps高速測試，提供從基礎功能到可靠性的全流程驗證方案，重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時間:2026-01-16
阿儀網(wǎng) pcie 5.0 轉接卡信號質量綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向高速接口卡設計與驗證的專用平臺。該系統(tǒng)深度整合了高精度矢量網(wǎng)絡分析（vna）、多通道高速示波器及自動化眼圖掃描與分析軟件，提供從通道s參數(shù)建模到壓力眼圖測試的全套解決方案。它能夠評估轉接卡在32 gt/s速率下的插入損耗、回波損耗、阻抗連續(xù)性及眼圖裕量，幫助工程師快速定位設計缺陷，量化優(yōu)化效果，是確保轉接卡設計一次成功的關鍵工具
更新時間:2026-01-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2026-01-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2026-01-16
面對2026年以pcie 6.0為首的高速測試挑戰(zhàn)，阿儀網(wǎng)推出 hyperlink pcie6-si pro一體化測試系統(tǒng)。本系統(tǒng)深度融合了高帶寬示波器、精密誤碼儀、矢量網(wǎng)絡分析模塊及自動化協(xié)議分析軟件，提供從物理層s參數(shù)建模、pam4眼圖/sndr分析、接收機壓力容限測試到協(xié)議一致性驗證的全套解決方案
更新時間:2026-01-16
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2026-01-16
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2026-01-16
pcie總線的層次組成結構與網(wǎng)絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中，數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2026-01-16
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2026-01-16
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2026-01-16
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2026-01-16
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2026-01-16
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2026-01-16
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2026-01-16
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2026-01-16
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2026-01-16
阿儀網(wǎng) 高速接口綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向pcie， usb， 以太網(wǎng)， mipi等主流高速接口的一站式驗證平臺。該系統(tǒng)深度融合了高性能矢量網(wǎng)絡分析（vna）、高帶寬采樣示波器? 及協(xié)議分析儀? 功能，提供從物理層tdr阻抗、s參數(shù)? 到協(xié)議一致性? 的全套測試能力，幫助研發(fā)與質檢團隊快速完成產(chǎn)品性能評估與故障定位
更新時間:2026-01-16
面對上述高速接口的測試挑戰(zhàn)，阿儀網(wǎng)推出的 高速接口綜合測試系統(tǒng)? 是一款高度集成化的認證級測試平臺。該系統(tǒng)深度融合了矢量網(wǎng)絡分析（vna）、高性能誤碼率測試（bert）? 和協(xié)議分析功能，旨在為客戶提供從物理層s參數(shù)建模、發(fā)射端信號質量分析到接收端容限驗證的一站式解決方案
更新時間:2026-01-16
揚州捷通供水技術設備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進的集成性上。
更新時間:2026-01-16
jt－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路，，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水靈音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關，大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2026-01-16
jt－1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。
更新時間:2026-01-16
jt－sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜，手持即可檢測，可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏，包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時間:2026-01-16
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術、現(xiàn)代音頻信號處理技術、嵌入式微處理器技術、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術等當先進技術，其聽音效果清晰、適合復雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定，是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準確定位泄漏點的位置。
更新時間:2026-01-16
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作為輕巧簡便，整體設計采用全金屬外殼，堅固耐用。
更新時間:2026-01-16
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器，也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏，當管道內(nèi)流體在壓力下逸出時，產(chǎn)生噪音能沿管道傳播，或沿埋層介質傳播到地面，檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。
更新時間:2026-01-16
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水錄音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關，大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2026-01-16
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜，手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當某處破損泄漏時，壓力水油氣從管道破損處向處噴射，與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲，這種聲音隨管道向兩側和埋設地面上方路面?zhèn)鞑?，此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號，通過主機進行放大顯示，并有選擇的過濾噪音，獨立出泄漏聲波，使操作者找到泄漏源
更新時間:2026-01-16
jt-1a地下管道泄漏檢測儀，是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器，擁有超強的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力，輸出泄漏信號清晰靈敏，操作界面目了然，可以使您的工作更加輕松，它具有以下主要特點：微處理器數(shù)字經(jīng)線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。
更新時間:2026-01-16
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-16
nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺，集成四大測試模塊，提供從基礎測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程，大幅提升測試效率和準確性。
更新時間:2026-01-16
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2026-01-16
相關產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2026-01-16
相關產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2026-01-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2026-01-16
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2026-01-16
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2026-01-16
最新產(chǎn)品
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