其他產(chǎn)品及廠家

德國PTL插頭力矩試驗儀

更新時間:2026-01-16

該公司產(chǎn)品分類：深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司

62600德國PTI表面粗糙度測試儀62600

更新時間:2026-01-16

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德國PTL試驗彎指

更新時間:2026-01-16

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LPDDR4替代驗證系統(tǒng) LPDVT-4000

lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設計的性能驗證平臺，支持4266mbps高速測試，提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗證方案，重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。

更新時間:2026-01-16

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

服務器、PCIe5.0 CEM、U.2 SSD、轉(zhuǎn)接卡設計、信號質(zhì)量優(yōu)化、眼圖裕度、PCI-SIG規(guī)范

阿儀網(wǎng) pcie 5.0 轉(zhuǎn)接卡信號質(zhì)量綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向高速接口卡設計與驗證的專用平臺。該系統(tǒng)深度整合了高精度矢量網(wǎng)絡分析（vna）、多通道高速示波器及自動化眼圖掃描與分析軟件，提供從通道s參數(shù)建模到壓力眼圖測試的全套解決方案。它能夠評估轉(zhuǎn)接卡在32 gt/s速率下的插入損耗、回波損耗、阻抗連續(xù)性及眼圖裕量，幫助工程師快速定位設計缺陷，量化優(yōu)化效果，是確保轉(zhuǎn)接卡設計一次成功的關(guān)鍵工具

更新時間:2026-01-16

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

更新時間:2026-01-16

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

更新時間:2026-01-16

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PCIe6.0、SI信號完整性、眼圖、抖動、誤碼率（BER）、PAM4調(diào)制、CTLE均衡、DFE均衡、FEC糾錯、S參數(shù)、TDR阻抗、串擾、去嵌技術(shù)、EMI電磁干擾、PCI-SIG規(guī)范、AI測試自動化

面對2026年以pcie 6.0為首的高速測試挑戰(zhàn)，阿儀網(wǎng)推出 hyperlink pcie6-si pro一體化測試系統(tǒng)。本系統(tǒng)深度融合了高帶寬示波器、精密誤碼儀、矢量網(wǎng)絡分析模塊及自動化協(xié)議分析軟件，提供從物理層s參數(shù)建模、pam4眼圖/sndr分析、接收機壓力容限測試到協(xié)議一致性驗證的全套解決方案

更新時間:2026-01-16

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PCIE2.0 3.0 驗證調(diào)試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時間:2026-01-16

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2026-01-16

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時間:2026-01-16

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PCIE2.0 3.0 RX 接收物理層一致性測試

pcie2.0 3.0 rx 接收物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。

更新時間:2026-01-16

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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端信號質(zhì)量一致性測試

pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題

更新時間:2026-01-16

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pcie2.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x4 眼圖測試物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。

更新時間:2026-01-16

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pcie2.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x8 眼圖測試物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。

更新時間:2026-01-16

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Pcie1.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x4 眼圖測試物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

更新時間:2026-01-16

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Pcie1.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x8 眼圖測試物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。

更新時間:2026-01-16

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Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。

更新時間:2026-01-16

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Pcie3.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。

更新時間:2026-01-16

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Pcie3.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x8 眼圖測試物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

更新時間:2026-01-16

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Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設計改板后的測試結(jié)果與仿真致。如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。

更新時間:2026-01-16

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TDR阻抗測試、串擾、S參數(shù)、基礎(chǔ)測試、接口驗證、PCIe6.0、USB4、HDMI2.1、SFP56、DDR5、MIPI C-PHY、224G Ethernet、、高速協(xié)議

阿儀網(wǎng) 高速接口綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向pcie， usb，以太網(wǎng)， mipi等主流高速接口的一站式驗證平臺。該系統(tǒng)深度融合了高性能矢量網(wǎng)絡分析（vna）、高帶寬采樣示波器? 及協(xié)議分析儀? 功能，提供從物理層tdr阻抗、s參數(shù)? 到協(xié)議一致性? 的全套測試能力，幫助研發(fā)與質(zhì)檢團隊快速完成產(chǎn)品性能評估與故障定位

更新時間:2026-01-16

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高頻測試、S參數(shù)、抖動、BER（誤碼率）、高速接口選型、PCIe6.0、USB4、HDMI2.1、SFP56、DDR5、MIPI C-PHY、224G Ethernet、信號完整性、技術(shù)選型指南

面對上述高速接口的測試挑戰(zhàn)，阿儀網(wǎng)推出的高速接口綜合測試系統(tǒng)? 是一款高度集成化的認證級測試平臺。該系統(tǒng)深度融合了矢量網(wǎng)絡分析（vna）、高性能誤碼率測試（bert）? 和協(xié)議分析功能，旨在為客戶提供從物理層s參數(shù)建模、發(fā)射端信號質(zhì)量分析到接收端容限驗證的一站式解決方案

更新時間:2026-01-16

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JT-TLD電子式聽漏棒

揚州捷通供水技術(shù)設備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質(zhì)上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進的集成性上。

更新時間:2026-01-16

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JT－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型

jt－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路，，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水靈音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。

更新時間:2026-01-16

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JT－1A漏水探測儀高靈敏智能型

jt－1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。

更新時間:2026-01-16

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JT－SC01手持式地下管道漏水檢測儀

jt－sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜，手持即可檢測，可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏，包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。

更新時間:2026-01-16

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JT-3Ax管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀

jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當先進技術(shù)，其聽音效果清晰、適合復雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定，是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準確定位泄漏點的位置。

更新時間:2026-01-16

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JT-2000供應管道漏水檢測儀/自來水管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作為輕巧簡便，整體設計采用全金屬外殼，堅固耐用。

更新時間:2026-01-16

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JT-3000供應管道測漏儀/漏水檢測儀/數(shù)字式漏水檢測儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器，也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏，當管道內(nèi)流體在壓力下逸出時，產(chǎn)生噪音能沿管道傳播，或沿埋層介質(zhì)傳播到地面，檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。

更新時間:2026-01-16

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JT-5000供應數(shù)字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀

jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水錄音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。

更新時間:2026-01-16

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JT-SC01供應地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜，手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當某處破損泄漏時，壓力水油氣從管道破損處向處噴射，與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲，這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設地面上方路面?zhèn)鞑?，此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號，通過主機進行放大顯示，并有選擇的過濾噪音，獨立出泄漏聲波，使操作者找到泄漏源

更新時間:2026-01-16

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JT-1A供應智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-1a地下管道泄漏檢測儀，是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器，擁有超強的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力，輸出泄漏信號清晰靈敏，操作界面目了然，可以使您的工作更加輕松，它具有以下主要特點：微處理器數(shù)字經(jīng)線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。

更新時間:2026-01-16

該公司產(chǎn)品分類：揚州捷通供水技術(shù)設備有限公司

HA405-DPA-SC-S8/120梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）

梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃

更新時間:2026-01-16

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Nand Flash 眼圖測試，時序測試，抖動測試幅度測試操作細節(jié)

nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺，集成四大測試模塊，提供從基礎(chǔ)測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程，大幅提升測試效率和準確性。

更新時間:2026-01-16

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EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試

emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。

更新時間:2026-01-16

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試

更新時間:2026-01-16

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。

更新時間:2026-01-16

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試電源紋波測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試

更新時間:2026-01-16

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試

更新時間:2026-01-16

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

更新時間:2026-01-16

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數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

更新時間:2026-01-16

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

更新時間:2026-01-16

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數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

更新時間:2026-01-16

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I復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

更新時間:2026-01-16

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EMMC 上電時序測試電源紋波測試

emmc 上電時序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。

更新時間:2026-01-16

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EMMC 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

更新時間:2026-01-16

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EMMC 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

emmc 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

更新時間:2026-01-16

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EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。

更新時間:2026-01-16

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EMMC4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

更新時間:2026-01-16

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