其他產(chǎn)品及廠家

EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進入該階段。
更新時間:2026-01-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2026-01-16
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2026-01-16
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2026-01-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2026-01-16
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2026-01-16
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時間:2026-01-16
復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2026-01-16
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導致貼片虛焊。
更新時間:2026-01-16
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2026-01-16
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2026-01-16
EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2026-01-16
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2026-01-16
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2026-01-16
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2026-01-16
EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時間:2026-01-16
EMMC5 復位測試 CLK測試
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2026-01-16
LPDDR5 存儲器芯片測試,LPDDR5 眼圖測試,LPDDR5 時序抖動測試,JEDEC JESD209-5 合規(guī)測試,高速存儲器信號完整性測試
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對lpddr4及高速存儲器芯片推出的專業(yè)級信號完整性測試平臺。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級時序測量與深度抖動分解功能,提供從研發(fā)調(diào)試、預合規(guī)驗證到失效分析的完整解決方案。其應對低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計,特別適合移動設(shè)備、汽車電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯ζ鹘涌诘膰揽硫炞C需求。
更新時間:2026-01-16
CD1941-7B0,電量傳感器BD-AI
cd1941-7b0 電流變送器 ceq超爾崎 電流變送器產(chǎn)品設(shè)計與開發(fā),現(xiàn)貨 cd1941-7b0 交流電流變送器 ceq超爾崎 3位半傳感器專用數(shù)顯表工程應用及實例,小梁
更新時間:2026-01-16
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2026-01-16
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2026-01-16
淼森波信號引導器、自研技術(shù)、USB2.0 Host測試必備款、USB2.0測試利器、淼森波自研設(shè)備、信號引導器
我們不僅提供這款蘊含核心自研技術(shù)的硬件,更提供其完整的s參數(shù)校準文件,并使其與我們的自動化測試軟件無縫對接。軟件可自動加載校準數(shù)據(jù),執(zhí)行“去嵌入”處理,呈現(xiàn)最真實的host發(fā)射機性能。本方案旨在為研發(fā)、認證與生產(chǎn)環(huán)節(jié)建立一個從“信號接入”到“報告生成”都具備最高可信度與可重復性的“黃準”測試流水線,是確保產(chǎn)品性能達標、快速通過認證的戰(zhàn)略性投資。
更新時間:2026-01-16
USB2.0 眼圖測試模板、抖動校準、時序校準、USB2.0 信號完整性、眼圖模板合規(guī)性、高速接口抖動時序優(yōu)化
ayi-usb2-at是阿儀網(wǎng)推出的高集成度自動化測試平臺,專為usb2.0眼圖模板、抖動及時序的驗證而設(shè)計。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件,一鍵執(zhí)行全項合規(guī)測試,自動分離抖動成分,測量時序參數(shù),并生成符合usb-if格式的詳細診斷報告,極大提升認證效率與問題定位精度。
更新時間:2026-01-16
USB3.0 接收端、受壓眼圖校準、眼高恢復、CTLE 均衡器校準、損耗模擬、順企網(wǎng)校準方案、USB-IF 受壓測試
uat-ec5000是業(yè)界針對usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準平臺,融合動態(tài)基線補償、本底抖動剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術(shù)。系統(tǒng)通過ai驅(qū)動的高精度信號重構(gòu),在極端壓力下仍可保證眼高測量誤差<±1%,為汽車電子/工業(yè)級應用提供可靠測試基準。
更新時間:2026-01-16
USB3.0 測試儀器選型、眼高測試儀器、時序測試設(shè)備、5Gbps 高速接口儀器、示波器選型、USB-IF 認證儀器配置
uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)級usb3.0/3.1/3.2信號完整性測試平臺。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動化分析軟件,專為測量眼高、抖動、時序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化,提供從自動化合規(guī)性測試到深度信號診斷的一站式解決方案,大幅提升研發(fā)驗證與認證測試效率。
更新時間:2026-01-16
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標準化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2026-01-16
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2026-01-16
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2026-01-16
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2026-01-16
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2026-01-16
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2026-01-16
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2026-01-16
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2026-01-16
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序:
更新時間:2026-01-16
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2026-01-16
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2026-01-16
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2026-01-16
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2026-01-16
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實會變差,這個當然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2026-01-16
以太網(wǎng)SerDes降速、1000M/2.5G/5.0G SerDes測試、電源完整性、PDN噪聲、驅(qū)動器性能、SerDes故障排查、PDN優(yōu)化方案
系統(tǒng)深度融合了多通道高精度同步測量、電源-信號頻譜智能關(guān)聯(lián)分析與pdn阻抗在環(huán)測試三大功能。它能同步捕獲phy芯片供電引腳上的真實噪聲與發(fā)送信號的眼圖/抖動,并通過算法自動關(guān)聯(lián)兩者的頻譜特征,一鍵生成因果分析報告。平臺還支持在不停機情況下評估去耦優(yōu)化效果,是快速因pdn問題導致的發(fā)送質(zhì)量差、鏈路降速等疑難雜癥的工具。
更新時間:2026-01-16
HDMI2.1、SFP56、高速接口測試、SI信號完整性、PI電源完整性、眼圖、抖動、誤碼率(BER)、串擾、阻抗匹配、S參數(shù)、去嵌技術(shù)、EMI電磁干擾、HDCP認證、光模塊電接口測試、矢量網(wǎng)絡分析儀
hyperlynx si-pro是阿儀網(wǎng)面向pcie 6.0、224gbps及更高速率設(shè)計的全集成、智能化測試平臺。系統(tǒng)深度融合了高帶寬實時采樣、協(xié)議交互感知、信道損傷模擬三大核心能力,提供從物理層眼圖/sndr分析、抖動頻譜診斷到協(xié)議層fec效能驗證的一站式解決方案。平臺獨有的“時間戳穿透”技術(shù),實現(xiàn)了協(xié)議事件與物理信號納秒級關(guān)聯(lián),是解決高速系統(tǒng)設(shè)計瓶頸的工具。
更新時間:2026-01-16
流動測震儀
bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器,具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,測量準確測量速度≥1.5m/s,存 儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,應急救災地完整配置.
更新時間:2026-01-16
JUKI飛達校正儀貼片機飛達校正儀 氣動飛達校正儀/SMT飛達顯示器
商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機型:juki系列機型
更新時間:2026-01-16
日本強力Kanetec高斯計TM-801EXP
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變,但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2026-01-16
品致P6030A 示波器高壓探頭(30kV,20MHz)
p6030a,當測量電壓源超過 dc 27kv 或者 ac 18kv 以上時,本產(chǎn)品不適用于長時間試用。因為高電壓的測量源將會對空氣中任意放電,造成高壓電源的穩(wěn)壓電路來不及反應,瞬間將會有脈沖高壓發(fā)生,脈沖高壓很有可能超過本產(chǎn)品的額定值,將會造成嚴重損壞。
更新時間:2026-01-15
品致 P6028A 高壓衰減棒(28kV,75MHz)示波器高壓探頭
p6028a(75mhz,x1000 ,dc 28kv, ac 20kv) 超高靈敏度,500mω高輸入阻抗,衰減1000倍,適合測量lcd背光板,整流器等高壓包的高壓電路,帶精美工具箱,收納、攜帶更方便。
更新時間:2026-01-15
品致高精度電流傳感器PCT105-B(DC-500kHz,±120A )萬用表/示波器可用
電流傳感器,主要面向要求高測量準確度的直流、交流以及脈沖電流測量領(lǐng)域,一次、二次電流相互隔離,安全性能高。
更新時間:2026-01-15

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑