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Nand Flash 眼圖測(cè)試, 時(shí)序測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試 幅度測(cè)試操作細(xì)節(jié)
nfps-5000是阿儀網(wǎng)專(zhuān)為nand flash測(cè)試開(kāi)發(fā)的精密測(cè)試平臺(tái),集成四大測(cè)試模塊,提供從基礎(chǔ)測(cè)試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動(dòng)化測(cè)試流程,大幅提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
更新時(shí)間:2026-01-16
EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
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電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
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CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號(hào)相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性,省去總線(xiàn) tuning 過(guò)程。
更新時(shí)間:2026-01-16
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
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電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-16
控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線(xiàn)上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線(xiàn)上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開(kāi)始接收 response。
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clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2026-01-16
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
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復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線(xiàn)測(cè)試過(guò)程(bus testing procedure),測(cè)試總線(xiàn)硬件上的連通性。
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EMMC 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤(pán)部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2026-01-16
EMMC 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶(hù)探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線(xiàn),而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
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EMMC 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
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EMMC 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線(xiàn)連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
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EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開(kāi),屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上,中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
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Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō),emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
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EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
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EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線(xiàn)接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
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EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪(fǎng)問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
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LPDDR5 存儲(chǔ)器芯片測(cè)試,LPDDR5 眼圖測(cè)試,LPDDR5 時(shí)序抖動(dòng)測(cè)試,JEDEC JESD209-5 合規(guī)測(cè)試,高速存儲(chǔ)器信號(hào)完整性測(cè)試
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對(duì)lpddr4及高速存儲(chǔ)器芯片推出的專(zhuān)業(yè)級(jí)信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級(jí)時(shí)序測(cè)量與深度抖動(dòng)分解功能,提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗(yàn)證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對(duì)低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計(jì),特別適合移動(dòng)設(shè)備、汽車(chē)電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯?chǔ)器接口的嚴(yán)苛驗(yàn)證需求。
更新時(shí)間:2026-01-16
CD1941-7B0,電量傳感器BD-AI
cd1941-7b0 電流變送器 ceq超爾崎 電流變送器產(chǎn)品設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā),現(xiàn)貨 cd1941-7b0 交流電流變送器 ceq超爾崎 3位半傳感器專(zhuān)用數(shù)顯表工程應(yīng)用及實(shí)例,小梁
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出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具
出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具
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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具,硬件測(cè)試,ddr測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
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淼森波信號(hào)引導(dǎo)器、自研技術(shù)、USB2.0 Host測(cè)試必備款、USB2.0測(cè)試?yán)?、淼森波自研設(shè)備、信號(hào)引導(dǎo)器
我們不僅提供這款蘊(yùn)含核心自研技術(shù)的硬件,更提供其完整的s參數(shù)校準(zhǔn)文件,并使其與我們的自動(dòng)化測(cè)試軟件無(wú)縫對(duì)接。軟件可自動(dòng)加載校準(zhǔn)數(shù)據(jù),執(zhí)行“去嵌入”處理,呈現(xiàn)最真實(shí)的host發(fā)射機(jī)性能。本方案旨在為研發(fā)、認(rèn)證與生產(chǎn)環(huán)節(jié)建立一個(gè)從“信號(hào)接入”到“報(bào)告生成”都具備最高可信度與可重復(fù)性的“黃準(zhǔn)”測(cè)試流水線(xiàn),是確保產(chǎn)品性能達(dá)標(biāo)、快速通過(guò)認(rèn)證的戰(zhàn)略性投資。
更新時(shí)間:2026-01-16
USB2.0 眼圖測(cè)試模板、抖動(dòng)校準(zhǔn)、時(shí)序校準(zhǔn)、USB2.0 信號(hào)完整性、眼圖模板合規(guī)性、高速接口抖動(dòng)時(shí)序優(yōu)化
ayi-usb2-at是阿儀網(wǎng)推出的高集成度自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),專(zhuān)為usb2.0眼圖模板、抖動(dòng)及時(shí)序的驗(yàn)證而設(shè)計(jì)。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件,一鍵執(zhí)行全項(xiàng)合規(guī)測(cè)試,自動(dòng)分離抖動(dòng)成分,測(cè)量時(shí)序參數(shù),并生成符合usb-if格式的詳細(xì)診斷報(bào)告,極大提升認(rèn)證效率與問(wèn)題定位精度。
更新時(shí)間:2026-01-16
USB3.0 接收端、受壓眼圖校準(zhǔn)、眼高恢復(fù)、CTLE 均衡器校準(zhǔn)、損耗模擬、順企網(wǎng)校準(zhǔn)方案、USB-IF 受壓測(cè)試
uat-ec5000是業(yè)界針對(duì)usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準(zhǔn)平臺(tái),融合動(dòng)態(tài)基線(xiàn)補(bǔ)償、本底抖動(dòng)剝離、眼圖傾斜校正三大專(zhuān)利技術(shù)。系統(tǒng)通過(guò)ai驅(qū)動(dòng)的高精度信號(hào)重構(gòu),在極端壓力下仍可保證眼高測(cè)量誤差<±1%,為汽車(chē)電子/工業(yè)級(jí)應(yīng)用提供可靠測(cè)試基準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2026-01-16
USB3.0 測(cè)試儀器選型、眼高測(cè)試儀器、時(shí)序測(cè)試設(shè)備、5Gbps 高速接口儀器、示波器選型、USB-IF 認(rèn)證儀器配置
uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專(zhuān)業(yè)級(jí)usb3.0/3.1/3.2信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動(dòng)化分析軟件,專(zhuān)為測(cè)量眼高、抖動(dòng)、時(shí)序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化,提供從自動(dòng)化合規(guī)性測(cè)試到深度信號(hào)診斷的一站式解決方案,大幅提升研發(fā)驗(yàn)證與認(rèn)證測(cè)試效率。
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-16
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線(xiàn)上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2026-01-16
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2026-01-16
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2026-01-16
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過(guò)軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2026-01-16
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問(wèn)題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來(lái)說(shuō),只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2026-01-16
以太網(wǎng)SerDes降速、1000M/2.5G/5.0G SerDes測(cè)試、電源完整性、PDN噪聲、驅(qū)動(dòng)器性能、SerDes故障排查、PDN優(yōu)化方案
系統(tǒng)深度融合了多通道高精度同步測(cè)量、電源-信號(hào)頻譜智能關(guān)聯(lián)分析與pdn阻抗在環(huán)測(cè)試三大功能。它能同步捕獲phy芯片供電引腳上的真實(shí)噪聲與發(fā)送信號(hào)的眼圖/抖動(dòng),并通過(guò)算法自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者的頻譜特征,一鍵生成因果分析報(bào)告。平臺(tái)還支持在不停機(jī)情況下評(píng)估去耦優(yōu)化效果,是快速因pdn問(wèn)題導(dǎo)致的發(fā)送質(zhì)量差、鏈路降速等疑難雜癥的工具。
更新時(shí)間:2026-01-16
HDMI2.1、SFP56、高速接口測(cè)試、SI信號(hào)完整性、PI電源完整性、眼圖、抖動(dòng)、誤碼率(BER)、串?dāng)_、阻抗匹配、S參數(shù)、去嵌技術(shù)、EMI電磁干擾、HDCP認(rèn)證、光模塊電接口測(cè)試、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
hyperlynx si-pro是阿儀網(wǎng)面向pcie 6.0、224gbps及更高速率設(shè)計(jì)的全集成、智能化測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)深度融合了高帶寬實(shí)時(shí)采樣、協(xié)議交互感知、信道損傷模擬三大核心能力,提供從物理層眼圖/sndr分析、抖動(dòng)頻譜診斷到協(xié)議層fec效能驗(yàn)證的一站式解決方案。平臺(tái)獨(dú)有的“時(shí)間戳穿透”技術(shù),實(shí)現(xiàn)了協(xié)議事件與物理信號(hào)納秒級(jí)關(guān)聯(lián),是解決高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)瓶頸的工具。
更新時(shí)間:2026-01-16
流動(dòng)測(cè)震儀
bc302流動(dòng)測(cè)震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線(xiàn)溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測(cè)儀器,具有振動(dòng)測(cè)量和評(píng)價(jià)、軸承狀態(tài)檢測(cè)和評(píng)價(jià)功能。流動(dòng)測(cè)震儀振動(dòng)檢測(cè)、軸承狀態(tài)分析和紅外線(xiàn)溫度測(cè)量,測(cè)量準(zhǔn)確測(cè)量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測(cè)、軸承狀態(tài)分析和紅外線(xiàn)溫度測(cè)量,應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2026-01-16
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱(chēng):juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
更新時(shí)間:2026-01-16
日本強(qiáng)力Kanetec高斯計(jì)TM-801EXP
日本強(qiáng)力kanetec高斯計(jì)tm-801exp產(chǎn)品說(shuō)明:tm-701的容易使用性能沒(méi)有改變,但是實(shí)現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量器
更新時(shí)間:2026-01-16
品致P6030A 示波器高壓探頭(30kV,20MHz)
p6030a,當(dāng)測(cè)量電壓源超過(guò) dc 27kv 或者 ac 18kv 以上時(shí),本產(chǎn)品不適用于長(zhǎng)時(shí)間試用。因?yàn)楦唠妷旱臏y(cè)量源將會(huì)對(duì)空氣中任意放電,造成高壓電源的穩(wěn)壓電路來(lái)不及反應(yīng),瞬間將會(huì)有脈沖高壓發(fā)生,脈沖高壓很有可能超過(guò)本產(chǎn)品的額定值,將會(huì)造成嚴(yán)重?fù)p壞。
更新時(shí)間:2026-01-15
品致 P6028A 高壓衰減棒(28kV,75MHz)示波器高壓探頭
p6028a(75mhz,x1000 ,dc 28kv, ac 20kv) 超高靈敏度,500mω高輸入阻抗,衰減1000倍,適合測(cè)量lcd背光板,整流器等高壓包的高壓電路,帶精美工具箱,收納、攜帶更方便。
更新時(shí)間:2026-01-15

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