示波器產(chǎn)品及廠家
儀器儀表租售服務主要儀器：示波器、信號發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡分析儀、頻譜分析儀、功率計、dc程控電源、esd測試儀、風速測試儀、安規(guī)測試儀、負載測試儀、近場測試儀、溫度測試儀等等。硬件測試服務① si信號完整性測試② pi電源完整性測試③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時間:2026-01-16
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更新時間:2026-01-16
pcie信號完整性測試是一個重要的過程，它確保了高速串行信號在整個傳輸過程中保持其原始形態(tài)，沒有受到損壞或失真。這種測試對于滿足高速顯卡、高速存儲設備等對于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P重要。
更新時間:2026-01-16
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更新時間:2026-01-16
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pcie rx 物理層一致性測試, 進行 pcie rx 一致性測試時，有一些注意事項需要考慮:1. 測試設備;2. 測試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報文;4. 測試工具和軟件;5. 測試范圍和時長;6. 結果分析和修正;7. 關注測試報告.總之，進行 pcie rx 一致性測試需要細致的準備工作和嚴格的測試流程，以確保設備的性能和可靠性符合預期要求。
更新時間:2026-01-16
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更新時間:2026-01-16
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更新時間:2026-01-16
目前主流的ddr2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從ddr-266的266mt/s、133mhz、2.5v電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的ddr2-1066的1066mt/s、533mhz、1.8v電壓。另外，低能耗ddr(lp-ddr，用于便攜式計算機)和顯存gddr也是ddr的發(fā)展變化版本。
更新時間:2026-01-16
hp惠普安捷倫微波開關33311b 惠普微波開關 安捷倫微波開關 開放實驗室 硬件開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-16
agilent/hp安捷倫惠普dso-6034a示波器300mhz-4ch 惠普示波器 安捷倫示波器 硬件實驗室 開放實驗室 儀器租賃 硬件開放實驗室
更新時間:2026-01-16
泰克tektronix示波器tds540d(500mhz 4ch) 數(shù)字示波器 數(shù)字存儲示波器 硬件開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-16
惠普安捷倫hp/agilent 頻譜分析儀8594e(9khz-2.9ghz) 安捷倫頻譜分析儀 惠普頻譜分析儀 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-16
atten數(shù)字存儲液晶屏示波器ads7062s 示波器 數(shù)字存儲示波器 硬件開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-16
主要特點和優(yōu)點同時在全部四條通道上實現(xiàn)了20, 16, 12.5, 8, 6 和4 ghz 多種帶寬型號高達50 gs/s 的實時采樣率高達250 m 樣點的記錄長度及multiview zoomtm 功能， 快速進行導航最快的波形捕獲速率，每條通道最高捕獲速率>300,000 wfms/s最高的帶寬－高達20 ghz，在最新高速串行
更新時間:2026-01-16
pcie2.0 3.0 4.0 硬件測試解決方案pcie memap空間讀寫異常問題：pcie可以正常讀寫配置空間，但無法正常讀寫memap 空間
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x16 眼圖測試 物理層致性測試傳統(tǒng)的源同步時鐘總線系統(tǒng)般多采用并行單端信號，典型幅度在從 ttl-5v,cmos- 3.3v/1.8v 左右。在設計和測試上遇到的信號完整性問題主要是反射和串擾，經(jīng)常強調如何有效利用示波器的觸發(fā)功能進行定位和捕獲并分析,對示波器的波形捕獲率及毛刺觸發(fā)和建立/保持觸發(fā)等能力均有很高要求。
更新時間:2026-01-16
pts-3000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)pcie測試系統(tǒng)，支持pcie 3.0/4.0/5.0一致性測試。系統(tǒng)集成眼圖測試、協(xié)議分析等功能，提供自動化測試流程，助力客戶快速完成pci-sig認證。
更新時間:2026-01-16
通過以上細節(jié)的測試，我們可以更準確地評估pcie5.0的性能和穩(wěn)定性。在進行測試時，我們需要注意數(shù)據(jù)的質量和傳輸速率，并記錄和分析測試結果。這有助于我們更好地了解pcie5.0的性能和特點，為未來的應用提供更可靠的保障。
更新時間:2026-01-16
通過以上細節(jié)的測試，我們可以更準確地評估pcie5.0的性能和穩(wěn)定性。在進行測試時，我們需要注意數(shù)據(jù)的質量和傳輸速率，并記錄和分析測試結果。這有助于我們更好地了解pcie5.0的性能和特點，為未來的應用提供更可靠的保障。
更新時間:2026-01-16
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更新時間:2026-01-16
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更新時間:2026-01-16
最新產(chǎn)品
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- HEBBLZ400-2-80_50_10(25)-206_M1_S29_mit 6- 2026/1/16 20:29:10
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