示波器產(chǎn)品及廠家

DDR信號(hào)完整性測(cè)試系統(tǒng)DST-3000
dst-3000是專為ddr器件替代開發(fā)的信號(hào)完整性測(cè)試系統(tǒng),提供完整的時(shí)序/電氣參數(shù)驗(yàn)證方案。系統(tǒng)支持自動(dòng)化測(cè)試,幫助用戶快速評(píng)估國(guó)產(chǎn)器件兼容性,確保替代可靠性。
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR測(cè)試,信號(hào)完整性測(cè)試,DDR故障分析與診斷
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR物理層測(cè)試,信號(hào)完整性測(cè)試,DDR3故障分析與診斷
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR測(cè)試,信號(hào)完整性測(cè)試,DDR3 故障分析-無(wú)法開機(jī)
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR測(cè)試,信號(hào)完整性測(cè)試,時(shí)序分析
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR3物理層測(cè)試,故障分析,眼圖測(cè)試
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR信號(hào)完整性測(cè)試,DDR測(cè)試方法,DDR穩(wěn)定性測(cè)試
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR3眼圖測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
北京DDR測(cè)試,DDR眼圖測(cè)試和分析,DDR信號(hào)完整性測(cè)試,DDR穩(wěn)定性測(cè)試
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
北京DDR測(cè)試,DDR眼圖測(cè)試和分析,DDR信號(hào)完整性測(cè)試,DDR測(cè)試方法
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR眼圖測(cè)試和分析,DDR信號(hào)完整性測(cè)試,DDR測(cè)試方法
儀器儀表租售服務(wù)主要儀器:示波器、信號(hào)發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計(jì)、dc程控電源、esd測(cè)試儀、風(fēng)速測(cè)試儀、安規(guī)測(cè)試儀、負(fù)載測(cè)試儀、近場(chǎng)測(cè)試儀、溫度測(cè)試儀等等。硬件測(cè)試服務(wù)① si信號(hào)完整性測(cè)試② pi電源完整性測(cè)試③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIe 眼圖測(cè)試 信號(hào)完整性測(cè)試 一致性測(cè)試
pcie信號(hào)完整性測(cè)試是一個(gè)重要的過(guò)程,它確保了高速串行信號(hào)在整個(gè)傳輸過(guò)程中保持其原始形態(tài),沒有受到損壞或失真。這種測(cè)試對(duì)于滿足高速顯卡、高速存儲(chǔ)設(shè)備等對(duì)于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P(guān)重要。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIe  淼森波 信號(hào)完整性測(cè)試  專業(yè)一致性測(cè)試
pcie信號(hào)完整性測(cè)試是一個(gè)重要的過(guò)程,它確保了高速串行信號(hào)在整個(gè)傳輸過(guò)程中保持其原始形態(tài),沒有受到損壞或失真。這種測(cè)試對(duì)于滿足高速顯卡、高速存儲(chǔ)設(shè)備等對(duì)于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P(guān)重要。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIe  淼森波 信號(hào)完整性測(cè)試 一致性測(cè)試
pcie信號(hào)完整性測(cè)試是一個(gè)重要的過(guò)程,它確保了高速串行信號(hào)在整個(gè)傳輸過(guò)程中保持其原始形態(tài),沒有受到損壞或失真。這種測(cè)試對(duì)于滿足高速顯卡、高速存儲(chǔ)設(shè)備等對(duì)于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P(guān)重要。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIe  專業(yè) 信號(hào)完整性測(cè)試 一致性測(cè)試
pcie信號(hào)完整性測(cè)試是一個(gè)重要的過(guò)程,它確保了高速串行信號(hào)在整個(gè)傳輸過(guò)程中保持其原始形態(tài),沒有受到損壞或失真。這種測(cè)試對(duì)于滿足高速顯卡、高速存儲(chǔ)設(shè)備等對(duì)于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P(guān)重要。
更新時(shí)間:2026-01-16
專業(yè) PCIe  信號(hào)完整性測(cè)試 一致性測(cè)試
pcie信號(hào)完整性測(cè)試是一個(gè)重要的過(guò)程,它確保了高速串行信號(hào)在整個(gè)傳輸過(guò)程中保持其原始形態(tài),沒有受到損壞或失真。這種測(cè)試對(duì)于滿足高速顯卡、高速存儲(chǔ)設(shè)備等對(duì)于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P(guān)重要。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIe 信號(hào)完整性測(cè)試 一致性測(cè)試
pcie信號(hào)完整性測(cè)試是一個(gè)重要的過(guò)程,它確保了高速串行信號(hào)在整個(gè)傳輸過(guò)程中保持其原始形態(tài),沒有受到損壞或失真。這種測(cè)試對(duì)于滿足高速顯卡、高速存儲(chǔ)設(shè)備等對(duì)于高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊笾陵P(guān)重要。
更新時(shí)間:2026-01-16
淼森波實(shí)驗(yàn)室 PCIE RX 專業(yè) 物理層一致性測(cè)試
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
專業(yè)測(cè)試 PCIE RX 物理層一致性測(cè)試 淼森波
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIE RX 專業(yè) 一致性測(cè)試 物理層測(cè)試
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
一致性測(cè)試 PCIE RX 測(cè)試注意事項(xiàng) 專業(yè)測(cè)試
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIE RX 淼森波  一致性測(cè)試 專業(yè)測(cè)試
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIE RX 夾具 專業(yè) 一致性測(cè)試 解決方案 注意事項(xiàng)
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIE RX 一致性測(cè)試 夾具 測(cè)試注意事項(xiàng)
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIE RX 夾具 驗(yàn)證 一到性測(cè)試 注意事項(xiàng)
pcie rx 物理層一致性測(cè)試, 進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試時(shí),有一些注意事項(xiàng)需要考慮:1. 測(cè)試設(shè)備;2. 測(cè)試環(huán)境;3. 配置合理的數(shù)據(jù)報(bào)文;4. 測(cè)試工具和軟件;5. 測(cè)試范圍和時(shí)長(zhǎng);6. 結(jié)果分析和修正;7. 關(guān)注測(cè)試報(bào)告.總之,進(jìn)行 pcie rx 一致性測(cè)試需要細(xì)致的準(zhǔn)備工作和嚴(yán)格的測(cè)試流程,以確保設(shè)備的性能和可靠性符合預(yù)期要求。
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR測(cè)試@新聞,信號(hào)完整性分析,專業(yè)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試,新聞資訊
目前主流的ddr2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從ddr-266的266mt/s、133mhz、2.5v電壓,已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的ddr2-1066的1066mt/s、533mhz、1.8v電壓。另外,低能耗ddr(lp-ddr,用于便攜式計(jì)算機(jī))和顯存gddr也是ddr的發(fā)展變化版本。
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR測(cè)試與分析
更新時(shí)間:2026-01-16
DDR測(cè)試指導(dǎo)
更新時(shí)間:2026-01-16
HP惠普安捷倫微波開關(guān),DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
hp惠普安捷倫微波開關(guān)33311b 惠普微波開關(guān) 安捷倫微波開關(guān) 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2026-01-16
Agilent/HP安捷倫惠普示波器,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
agilent/hp安捷倫惠普dso-6034a示波器300mhz-4ch 惠普示波器 安捷倫示波器 硬件實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃 硬件開放實(shí)驗(yàn)室
更新時(shí)間:2026-01-16
泰克Tektronix示波器,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
泰克tektronix示波器tds540d(500mhz 4ch) 數(shù)字示波器 數(shù)字存儲(chǔ)示波器 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2026-01-16
惠普安捷倫HP/Agilent 頻譜分析儀9KHz-2.9GHz,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,信號(hào)完速性測(cè)試
惠普安捷倫hp/agilent 頻譜分析儀8594e(9khz-2.9ghz) 安捷倫頻譜分析儀 惠普頻譜分析儀 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2026-01-16
數(shù)字示波器,硬件測(cè)試,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
atten數(shù)字存儲(chǔ)液晶屏示波器ads7062s 示波器 數(shù)字存儲(chǔ)示波器 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2026-01-16
高速示波器 硬件測(cè)試,信號(hào)完整性測(cè)試,DDR測(cè)試,泰克Tektronix 高速示波器@案例分析
主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)同時(shí)在全部四條通道上實(shí)現(xiàn)了20, 16, 12.5, 8, 6 和4 ghz 多種帶寬型號(hào)高達(dá)50 gs/s 的實(shí)時(shí)采樣率高達(dá)250 m 樣點(diǎn)的記錄長(zhǎng)度及multiview zoomtm 功能, 快速進(jìn)行導(dǎo)航最快的波形捕獲速率,每條通道最高捕獲速率>300,000 wfms/s最高的帶寬-高達(dá)20 ghz,在最新高速串行
更新時(shí)間:2026-01-16
PCIE2.0 3.0 4.0 硬件測(cè)試解決方案
pcie2.0 3.0 4.0 硬件測(cè)試解決方案pcie memap空間讀寫異常問(wèn)題:pcie可以正常讀寫配置空間,但無(wú)法正常讀寫memap 空間
更新時(shí)間:2026-01-16
pcie2.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試傳統(tǒng)的源同步時(shí)鐘總線系統(tǒng)般多采用并行單端信號(hào),典型幅度在從 ttl-5v,cmos- 3.3v/1.8v 左右。在設(shè)計(jì)和測(cè)試上遇到的信號(hào)完整性問(wèn)題主要是反射和串?dāng)_,經(jīng)常強(qiáng)調(diào)如何有效利用示波器的觸發(fā)功能進(jìn)行定位和捕獲并分析,對(duì)示波器的波形捕獲率及毛刺觸發(fā)和建立/保持觸發(fā)等能力均有很高要求。
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PCIe一致性測(cè)試系統(tǒng)PTS-3000
pts-3000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)pcie測(cè)試系統(tǒng),支持pcie 3.0/4.0/5.0一致性測(cè)試。系統(tǒng)集成眼圖測(cè)試、協(xié)議分析等功能,提供自動(dòng)化測(cè)試流程,助力客戶快速完成pci-sig認(rèn)證。
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淼森波 專業(yè) 安立誤碼儀PCIE5.0 /4.0/3.0 RX 一致性測(cè)試 測(cè)試細(xì)節(jié)
通過(guò)以上細(xì)節(jié)的測(cè)試,我們可以更準(zhǔn)確地評(píng)估pcie5.0的性能和穩(wěn)定性。在進(jìn)行測(cè)試時(shí),我們需要注意數(shù)據(jù)的質(zhì)量和傳輸速率,并記錄和分析測(cè)試結(jié)果。這有助于我們更好地了解pcie5.0的性能和特點(diǎn),為未來(lái)的應(yīng)用提供更可靠的保障。
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