標(biāo)準(zhǔn)樣品產(chǎn)品及廠家

  光譜儀薄膜美國進(jìn)口樣品膜3018
現(xiàn)貨供應(yīng):xrf樣品膜、xrf薄膜、edx樣品膜、edx薄膜、樣品薄膜、x-ray樣品膜、rohs測試膜、x-ray樣品膜、x熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、mylar膜、美國chemplex樣品膜、cat.06、cat.50、cat.no:250、cat.no:256、cat.no:257、cat.no:416、cat.no:426、cat.no:3014樣品膜、sample film。
更新時間:2026-01-14
TF-475-3  7.5μ Kapton膜、美國Premier X-ray樣品膜
二、premier 樣品膜特點: 有卷狀和片狀,多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇; 柔韌性強(qiáng)、方便、耐用; 的x-ray射線穿透性,適合各類xrf光譜儀; 的抗化學(xué)腐蝕性能,不溶于有機(jī)溶劑,不污染待測樣品; (幾乎不含)痕量雜質(zhì),特別適合于輕質(zhì)元素的限量檢測。
更新時間:2026-01-14
  NB/T 47013-2015國家標(biāo)準(zhǔn)像質(zhì)計
 我公司供應(yīng)透度計、像質(zhì)計,等徑像質(zhì)計,有意者請與我公司,謝謝合作。    射線探傷像質(zhì)計、透度計nb/t47013-2015標(biāo)準(zhǔn) 像質(zhì)計 
更新時間:2026-01-14
  NB47013-2015新標(biāo)準(zhǔn)像質(zhì)計
 我公司供應(yīng)透度計、像質(zhì)計,等徑像質(zhì)計,有意者請與我公司,謝謝合作。    射線探傷像質(zhì)計、透度計nb/t47013-2015標(biāo)準(zhǔn) 像質(zhì)計 
更新時間:2026-01-14
  標(biāo)準(zhǔn)線型像質(zhì)計
  一、產(chǎn)品簡介:·像質(zhì)計能測定射線底片的靈敏度,根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計的影像,可以判斷底片影像的質(zhì)量,并可評定透照技術(shù)、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗?zāi)芰Φ取?mid
更新時間:2026-01-14

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