光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2026-01-16
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2026-01-16
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2026-01-16
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:2026-01-16
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2026-01-16
德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:2026-01-16
日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2026-01-16
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2026-01-16
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時間:2026-01-16
德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2026-01-16
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2026-01-16
德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:2026-01-16
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:2026-01-16
美國OGP光學(xué)式坐標測量儀
美國ogp光學(xué)式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2026-01-16
接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標。
更新時間:2026-01-16
接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實性，獲取最佳的成像效果。
更新時間:2026-01-16
美Associated 耐壓測試儀​
美associated 耐壓測試儀​hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:2026-01-16
美Montana超精細多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2026-01-16
德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2026-01-16
美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨特的測量和分析技術(shù)，包括準穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時間:2026-01-16
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:2026-01-16
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時間:2026-01-16
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時間:2026-01-16
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2026-01-16
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2026-01-16
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達7個通道
更新時間:2026-01-16
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2026-01-16
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2026-01-16
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:2026-01-16
德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計獨特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時間:2026-01-16
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2026-01-16
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2026-01-16
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2026-01-16
德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實驗室設(shè)計，用于快速、準確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進行反射率和/或透射率測量。
更新時間:2026-01-16
德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴展平臺。
更新時間:2026-01-16
德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具，全自動測繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準確地測量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時間:2026-01-16
FPD-VIS-300快速光學(xué)檢測器
fpd-vis-300 是一種快速光學(xué)檢測器，用于可視化和測量 320 nm 至 1100 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時間特性。它具有硅 pin 光電二管，旨在將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測量儀器進行測量。fpd-vis-300 的上升時間為 300 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時間:2026-01-16
FPD-IG-175光學(xué)檢測器
fpd-ig-175 是一款快速光學(xué)檢測器，用于可視化和測量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時間特性。它有一個 ingaas pin 光電二管，旨在將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測量儀器進行測量。fpd-ig-175 的上升時間為 175 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時間:2026-01-16
FPD-IG-25光學(xué)檢測器
fpd-ig-25 是一種快速光學(xué)檢測器，用于可視化和測量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時間特性。它有一個 ingaas pin 光電二管，旨在將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測量儀器進行測量。fpd-ig-25 的上升時間為 25 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時間:2026-01-16
BeamWatch Integrated自動激光測量儀
beamwatch integrated自動激光測量儀用于自動化制造的光束表征系統(tǒng) 實時自動測量激光功率、焦散和焦點偏移支持單模激光器全自動操作帶有好/壞信號的趨勢分析帶有時間戳的詳細報告無需更改測量系統(tǒng)即可使用不同類型的焊頭堅固耐用，適用于工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境輪班操作中頻繁測量的短測量時間
更新時間:2026-01-16
汽車前擋玻璃透光率儀
ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時間:2026-01-16
太陽膜透過率測試儀
ns11太陽膜透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16
IR油墨透光率儀
ns550ir油墨透光率儀的測試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16
光學(xué)透過率測量儀
ns13a光學(xué)透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16
防爆膜測試儀
ns10a防爆膜測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16
高精度透過率測試儀
ns12高精度透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16
臺式透光率儀
ns550a臺式透光率儀 測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16
中空玻璃測厚儀
ns500中空玻璃測厚儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于中空玻璃厚度的測量，同時測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:2026-01-16
多波段透過率測試儀
ns365多波段透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示
更新時間:2026-01-16
眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀
ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2026-01-16

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑