光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

低倍測量投影儀,線纜光學(xué)投影儀,數(shù)字式電纜測量投影儀
低倍測量投影儀,線纜光學(xué)投影儀,數(shù)字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-07-18
機(jī)械式輪廓測量投影儀參數(shù),線纜絕緣厚度測量投影儀價(jià)格,電纜外被測量投影儀市場價(jià)格
機(jī)械式輪廓測量投影儀參數(shù),線纜絕緣厚度測量投影儀價(jià)格,電纜外被測量投影儀市場價(jià)格是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-07-18
影像測量儀參數(shù),二次元影像測量儀的價(jià)格,二次元測量儀特點(diǎn)
影像測量儀參數(shù),二次元影像測量儀的價(jià)格,二次元測量儀特點(diǎn)主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足,采用攝像機(jī)將待測物體拍攝成圖像,再傳輸?shù)诫娔X,然后用專業(yè)的影像測量軟件,便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2025-07-18
線纜檢測測量投影儀,工件輪廓測量投影儀,線纜投影儀的參數(shù)
線纜檢測用投影儀,輪廓檢測投影儀,絕緣護(hù)套檢測投影儀被測工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-07-18
電線電纜測量投影儀,絕緣護(hù)套測量儀
電線電纜測量投影儀,絕緣護(hù)套測量儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器,適用于以二坐標(biāo)測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用,符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護(hù)套材料通用方法》標(biāo)準(zhǔn)要求。
更新時(shí)間:2025-07-18
線纜截面測試投影儀,線纜絕緣護(hù)套測試儀,線纜檢測投影儀
數(shù)碼管顯示處理器介紹1)點(diǎn)、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預(yù)置和構(gòu)造2)座標(biāo)擺正和座標(biāo)平移,方便擺正工件,減少調(diào)整時(shí)間3)三軸的顯示值4)rs232輸出功能(可打。5)多種座標(biāo)顯示方式,極座標(biāo)和直角座標(biāo)、inc座標(biāo)和abs座標(biāo)公制和英制6)對(duì)光柵尺可進(jìn)行線性補(bǔ)償或區(qū)段線性補(bǔ)償7)z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
更新時(shí)間:2025-07-18
眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀
ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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多波段透過率測試儀
ns365多波段透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示
更新時(shí)間:2025-07-18
中空玻璃測厚儀
ns500中空玻璃測厚儀專用于測量單層玻璃,夾層玻璃(中空玻璃)和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對(duì)于中空玻璃厚度的測量,同時(shí)測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2025-07-18
臺(tái)式透光率儀
ns550a臺(tái)式透光率儀 測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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高精度透過率測試儀
ns12高精度透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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防爆膜測試儀
ns10a防爆膜測試儀的測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-18
光學(xué)透過率測量儀
ns13a光學(xué)透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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IR油墨透光率儀
ns550ir油墨透光率儀的測試原理是采用紅外850nm光源,紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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太陽膜透過率測試儀
ns11太陽膜透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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汽車前擋玻璃透光率儀
ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測試單元分別為紫外,紅外,和可見光,顯示值為紅外透過率值,紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時(shí)間:2025-07-18
汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器
ns101汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器的測試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽膜,可見光標(biāo)注透過率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過率。ns101直接測量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,
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汽車前檔貼膜透光率測試儀
ns530a汽車前檔貼膜透光率測試儀具有三個(gè)獨(dú)立測試單元分別為紫外,紅外,和可見光,顯示值為紅外透過率值,紫外透過率值和可見光透過率值。
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卡式便攜式透光率儀
ns13a卡式便攜式透光率儀,透光率測試儀,透光率檢測儀,透光率計(jì),透過率測試儀,玻璃透光率儀,鏡片透光率測試儀,眼鏡片透光率儀,透明材料透光率儀,涂料透光率儀,太陽鏡片透光率測試儀
更新時(shí)間:2025-07-18
臺(tái)式光學(xué)透過率測試儀
ns550h臺(tái)式光學(xué)透過率測試儀測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm~760nm)測量儀,測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三路光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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陶瓷插芯測孔儀,光纖陶瓷插芯測孔儀,陶瓷插芯同心度測量儀
測量陶瓷插芯的內(nèi)孔孔徑,外圓直徑,圓度,內(nèi)外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度,平行度
更新時(shí)間:2025-07-18
拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū),出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式,把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來,解決視力疲勞問題,方便溝通和顯微鏡使用方法一樣,只是觀察方式的改變。專用模具支架,方便使用。適用于各種類型,各種孔徑的拉絲模具。
更新時(shí)間:2025-07-18
端子檢測顯微鏡,端子測量顯微鏡,端子分析顯微鏡
端子分析儀chd-200是針對(duì)線束行業(yè)品質(zhì)檢驗(yàn)而專門研發(fā)的一款精密檢測分析設(shè)備,整套系統(tǒng)由端子切割設(shè)備、研磨設(shè)備、腐蝕清洗、斷面圖像采集系統(tǒng)、線束端子圖片測量分析系統(tǒng)等單元組成,采用人體力學(xué)設(shè)計(jì),模塊化組合,流水線式工作流程,讓操作更方便、快捷。全套檢測系統(tǒng)可在5分鐘內(nèi)完成一個(gè)端子的處理分析,極大地提高了端子斷面品質(zhì)檢驗(yàn)的速度。簡易的操作、高品質(zhì)的圖像采集系統(tǒng)、精確的測量分析為您的生產(chǎn)保駕護(hù)航
更新時(shí)間:2025-07-18
拉絲模具測量儀
拉絲模具測孔儀對(duì)拉絲?讖.孔型進(jìn)行測量.拉絲模具測孔儀對(duì)異型孔也可以進(jìn)行測量.拉絲模具測孔儀也可以對(duì)孔型及表面光潔度進(jìn)行觀察.拉絲模具測孔儀操作簡單.易學(xué).高效.高精度
更新時(shí)間:2025-07-18
上海 半球發(fā)射率測量儀 AE1/RD1  美 D&S  現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-18
卡爾費(fèi)休水分儀 CA-310  三菱化學(xué)  現(xiàn)貨  庫倫法/容量法
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-18
半球發(fā)射率測量儀 AE1/RD1  美 D&S  現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-18
中空玻璃空氣層厚度測量儀
ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學(xué)反射原理,可在玻璃的單側(cè)表面測量玻璃厚度,尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃(中空玻璃)窗厚度的測量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測量,還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2025-07-18
臺(tái)式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺(tái)式薄膜探針反射儀臺(tái)式薄膜探針反射儀ftpadv,ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案,它具有非?焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量,其精度低于0.3nm,膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作,該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-07-18
綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件,光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析,這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中,使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-07-18
光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器,一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的,它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì),mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-07-18
光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-18
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-18
德國Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)
德國sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-07-18
自動(dòng)掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-07-18
德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-07-18
德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot,具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個(gè)測量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng),用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?蛇x的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-07-18
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-07-18
ALD實(shí)時(shí)監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-07-18
德國ThetaMetrisis  FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置,專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì),用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini,用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測量。
更新時(shí)間:2025-07-18
德國ThetaMetrisis  FR-Pro  膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-07-18
德國TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測量工具,全自動(dòng)測繪涂層的厚度,基底適用于晶圓,掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測量薄膜特性,比如厚度,折射系數(shù),均勻性,色度等,真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時(shí)間:2025-07-18
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時(shí)間:2025-07-18
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺(tái)式表面形貌測量設(shè)備
更新時(shí)間:2025-07-18
布魯克臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計(jì)創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2025-07-18
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2025-07-18
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-18
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅(jiān)固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2025-07-18
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時(shí)間:2025-07-18

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