掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2026-01-15
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2026-01-15
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2026-01-15
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2026-01-15
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2026-01-15
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發(fā)現。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2026-01-15
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2026-01-15
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2026-01-15
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2026-01-15
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2026-01-15
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2026-01-15
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2026-01-15
高速掃描電子顯微鏡hem6000是一款可實現跨尺度大規(guī)模樣品成像的高速掃描電子顯微鏡。采用高亮度大束流電子槍、高速電子偏轉系統(tǒng)、高壓樣品臺減速、動態(tài)光軸、浸沒式電磁復合物鏡等技術
更新時間:2026-01-15
日立掃描電鏡是一種利用高能電子束來掃描樣品表面，從而獲得極高分辨率微觀形貌信息的精密分析儀器。 它被譽為科學家和工程師觀察微觀世界的“眼睛”，其核心功能遠超普通光學顯微鏡。
更新時間:2026-01-15
su3900/su3800 se系列作為fe-sem產品，配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)sem產品受安裝樣品尺寸與重量的限制，通過簡單的操作即可實現數據采集?？捎糜阡撹F等工業(yè)材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。
更新時間:2026-01-15
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2026-01-15
蔡司 evo系列掃描電子顯微鏡evo系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起， 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業(yè)質量保證和失效分析域，憑借廣泛的可選配置， evo 都可以根據您的要求量身定制。
更新時間:2026-01-15
蔡司 sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡：用于高品質成像與高分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡將高的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的 gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。sigma 300 性價比高。s
更新時間:2026-01-15
picofemto透射電鏡原位mems加熱/電學測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子空間分辨率的實驗手段。
更新時間:2026-01-15
zem15臺式掃描電子顯微鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kv范圍內連續(xù)可調,可同時搭配二次電子探測器,散射電子探測器,zem15臺式掃描電子顯微鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設計目標，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲zem15臺式掃描電子顯微鏡。zem15臺式掃描電鏡速度快，信號采集帶寬10m，可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。
更新時間:2026-01-15
zem18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達10m，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、tec冷臺等原位測試系統(tǒng)）
更新時間:2026-01-15
zem20臺式掃描電微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節(jié)光闌。信號采集帶寬高達10m，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品。豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺、加熱臺、tec冷臺等）。
更新時間:2026-01-15
zem15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kv范圍內連續(xù)可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000n原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。
更新時間:2026-01-15
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2026-01-15
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2026-01-15
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2026-01-14
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2026-01-14
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2026-01-14
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2026-01-14
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2026-01-14
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2026-01-14
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2026-01-14
產品說明： kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學院在幾十年的掃描電鏡研究和生產基礎上，引用現代最新計算機及數字圖像技術， 開發(fā)出的高性能產品。該產品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外，新增加了各種計算機自動控制及調節(jié)功能，尤其是采用了專用圖像處理器進行圖像分析處理，使掃描電鏡與圖像分析得到完美結合。在window
更新時間:2026-01-14
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數 n/a 物鏡放大倍數 n/a 儀器放大倍數 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2026-01-14
產品說明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進行了改進。主要特點是穩(wěn)定可靠、結構緊湊、操作方便、維護簡單，是一款性價比較高的經濟型電鏡。
更新時間:2026-01-14
生化試劑氨基脲鹽酸鹽，鹽酸氨脲，肼甲酰胺鹽酸鹽，semicarbazide hydrochloride現貨銷售，可先提供發(fā)票，到貨時間3-5天，產品詳細信息可咨詢在線客服！
更新時間:2026-01-14
quanta 系列掃描電子顯微鏡屬于多功能、高性能儀器，并具有高真空、低真空和 esem 三種模式，能夠處理的樣本類型之多堪稱 sem 系統(tǒng)之最。所有 quanta sem 系統(tǒng)均可配備分析系統(tǒng)，比如能量色散譜儀、x 射線波長色散譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)。此外，場發(fā)射電子槍 (feg) 系統(tǒng)含有一個用于明場和暗場樣本成像的 s/tem 檢測器。sem 系統(tǒng)中的另一個可變配置是電動工作臺的尺寸（分 50mm、100mm 和 150mm 三種）以及電動 z 軸行程的大小（分別為 25mm、60mm 和 65mm）。
更新時間:2026-01-14
測量精度高；方便快捷地分析樣品的表面形貌和粗造度；分辨率高，景深大，清晰觀察不同焦平面上的圖像信息；共焦切層，三維重組，多角度觀察；對不同時間，不同位置的圖像進行無縫拼接，再現性強；可獲得亞微米級的線寬、面積、體積、臺階、線與面粗造度，透明膜厚等幾何參數測量數據。
更新時間:2026-01-14
我公司銷售各種類抗體，產品數量多，產品齊全，抗體純化、抗體制備，提供權威技術支持。單克隆抗體制備、多克隆抗體制備、抗體標記，歡迎來電咨詢:顆粒蛋白前體抗體
更新時間:2026-01-14
tomlov hdmi電源產品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數字可視化系統(tǒng)，讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求，是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實用工具。
更新時間:2026-01-13
evo系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術的物鏡設計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界先的x射線分析技術。
更新時間:2026-01-12
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2026-01-12
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2026-01-12
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業(yè)計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅，并且能夠在生產周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
更新時間:2026-01-12
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實現低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設計的人機交互方便操作，快速上手
更新時間:2026-01-07
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