無(wú)損x射線鍍層測(cè)厚儀采用sdd探測(cè)器:分辨率低至135ev先進(jìn)的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm樣品觀察:配備景和局部?jī)蓚(gè)工業(yè)高清攝像頭 分析元素范圍:硫(s)~鈾(u) 同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層 檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm分析含量:般為2ppm到99.9% 鍍層厚
更新時(shí)間:2025-07-05