探針臺產(chǎn)品及廠家
實驗測量設備磁場探針臺芯片測試半導體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-07-19
高低溫真空磁場探針臺半導體測試實驗臺應用范圍：磁特性測試、微波特性測試、直流、rf特性測試，微電子機械系統(tǒng)，超導電性測試，納米電路的光電屬性，量子點和線，高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-07-19
磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導體測試設備三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-07-19
氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學電學測試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時間:2025-07-19
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學電學儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試。
更新時間:2025-07-19
多維磁場探針臺測試系統(tǒng)無磁材質(zhì)半導體測試所選材料均為無磁材質(zhì)，磁場均勻性：中心區(qū)50毫米球體內(nèi)1％
更新時間:2025-07-19
三維磁場探針臺測試系統(tǒng)實驗室測試設備通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-07-19
快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試。
更新時間:2025-07-19
變溫教學霍爾測試系統(tǒng) 磁場大于3900高斯 本儀器用于霍爾效應及其應用、載流子類型、載流子類型轉變的演示和學生實驗。
更新時間:2025-07-19
實驗室半導體材料測量儀器定制＊精度實驗臺該探針臺和我司自主研發(fā)的＊精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的＊穩(wěn)定性。
更新時間:2025-07-19
錦正茂三維磁場探針臺 廣泛應用于半導體工業(yè)、mems 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等域。
更新時間:2025-07-19
錦正茂高低溫真空探針臺應用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-07-19
三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-07-19
可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-07-19
半導體材料測量＊精度實驗臺高低溫真空環(huán)境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時間:2025-07-19
半導體材料測量高精度實驗臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺 廣泛應用于半導體工業(yè)、mems 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等域。
更新時間:2025-07-19
高低溫真空磁場探針臺是具備提供高低溫、真空以及磁場環(huán)境的高精度實驗臺，它的諸多設計都是用的。因此，高低溫磁場探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進行選配及設計。例如，要求的磁場值，均勻區(qū)大小、均勻度大小、樣品臺的尺寸等，均于磁力線在一定區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生的磁通密度相關聯(lián)；
更新時間:2025-07-19
可進行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k），可升加載磁場，低溫防輻射屏設計，樣品臺采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好，溫度傳感器采用有著良好穩(wěn)定性和重復性的pt100或者標定過的硅二管作為測溫裝置，支持光纖光譜特性測試，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動，器件的高頻特性(支持高67ghz頻率)，探針熱沉設計，ld/led/pd的光強/波長測試，自動流量控制，材料/器件的iv/cv特性
更新時間:2025-07-19
北京錦正茂科技有限公司提供的一維 、二維 、三維磁場探針臺，采用無磁材料制成，一維 、二維 、三維三對亥姆霍茲線圈正交放置，產(chǎn)生空間一維 、二維 、三維磁場。線圈可采用風冷（磁場較。┮部刹捎盟浣Y構（磁場較大），并且配備有線圈過熱保護裝置。和錦正茂生產(chǎn)的高精度雙性直流電源配合使用可以長時間穩(wěn)定工作。通過軟件或者電源控制面板上按鍵控制每一維上的輸出電流，可以產(chǎn)生空間任意方向的矢量磁場。
更新時間:2025-07-19
材料實驗室半導體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-07-19
jzm-d30室溫探針臺材料實驗室半導體測量設備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設計都是﹡用的，探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進行選配及設計。
更新時間:2025-07-19
主要技術指標：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨固定）
更新時間:2025-07-19
可以進行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時間:2025-07-19
高低溫探針臺t8-ly100能夠為半導體芯片的電學參數(shù)測試提供一個80k-420k高低溫測試環(huán)境，
更新時間:2025-07-19
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。
更新時間:2025-07-19
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時間:2025-07-19
雙面點針探針臺可用于晶圓和pcb板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結構，符合人體工程學，以及多項升功能？蓮V泛應用于集成電路、wafer ， led、lcd、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究域。
更新時間:2025-07-18
上海祥樹起源于中國上海，現(xiàn)有員工100余人？偛吭O在上？偛恳惶柶髽I(yè)園區(qū)，公司擁有獨棟辦公樓及智能化的辦公環(huán)境、綠色環(huán)保的樓宇管理軟件。公司于2009年2月在德國杜塞爾多夫成立分公司，2013年2月在美國成立分公司，逐步實現(xiàn)全球化戰(zhàn)略布局。公司在不斷發(fā)展與壯大的同時，我們始終堅持客戶至上、互利共贏的宗旨，追求更加卓越的客戶品質(zhì)，向業(yè)化，多元化的企業(yè)集團穩(wěn)
更新時間:2025-07-18
高低溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差，支持定制15611171559。
更新時間:2025-07-17
晶圓測試高低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置，接下來通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準確扎到被測點，從而使其訊,號線與外部測試機導通，通過測試機可以得到所需要的電性能參數(shù)。
更新時間:2025-07-17
多級抽氣式高真空度真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置，接下來通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準確扎到被測點，從而使其訊,號線與外部測試機導通，通過測試機可以得到所需要的電性能參數(shù)。
更新時間:2025-07-17
復合控溫寬溫域高低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置，接下來通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準確扎到被測點，從而使其訊,號線與外部測試機導通，通過測試機可以得到所需要的電性能參數(shù)。
更新時間:2025-07-17
高精度piv測試簡易探針臺由華測儀器生產(chǎn)，主要用于電學性能測試，該探針臺具有靈活性、低成本和高精度的特點，結構緊湊、性價比高、穩(wěn)定性強、具備模塊化和可擴展性，其主要應用于半導體器件研發(fā)、光電子與顯示技術以及工業(yè)與工程應用，對于測試實驗中效率的提升、質(zhì)量控制與可靠性的驗證、提供實驗依據(jù)、優(yōu)化成本與節(jié)約資源具有重大意義。
更新時間:2025-07-17
華測半導體封裝材料真空探針臺/可r-t、c-v、i-v、r-i，cp-d,ε測試，精密小巧按需定制集成化設計性能穩(wěn)定，測試類型：r-t，c-v，i-v，r-i，cp-d,ε測試，搭配儀器：源表、高阻計、直流低電阻測試儀、阻抗分析儀、半導體參數(shù)分析儀。
更新時間:2025-07-17
華測真空探針臺/半導體封裝材料i-v測試系統(tǒng)，搭配儀器：源表、高阻計、直流低電阻測試儀、阻抗分析儀、半導體參數(shù)分析儀
更新時間:2025-07-17
氣氛型高溫探針臺半導體材料測量快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-07-17
最新產(chǎn)品
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