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孔徑/隙度分析儀產(chǎn)品及廠家
全自動(dòng)比表面積及孔隙度測(cè)定儀
金埃譜科技是國內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
更新時(shí)間:
2025-06-23
該公司產(chǎn)品分類:
北京金埃譜科技有限公司
比表面和孔隙率分析儀
金埃譜科技是國內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
更新時(shí)間:
2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
比表面積和孔隙率分析儀
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑測(cè)定儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平,部分功能超越國外產(chǎn)品.
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
比表面及孔徑分布測(cè)定儀
金埃譜科技是國內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
比表面及孔隙率分析儀
測(cè)試方法及功能:氮吸附靜態(tài)容量法,吸附及脫附等溫線測(cè)定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測(cè)定;
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2025-06-23
該公司產(chǎn)品分類:
北京金埃譜科技有限公司
孔徑測(cè)定儀V-Sorb 2800
v-sorb 2800是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑測(cè)定儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平,部分功能超越國外產(chǎn)品.
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
比表面積及孔隙度分析儀、比表面積及孔隙度分析儀
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑測(cè)定儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,金埃譜比表面及孔徑檢測(cè)儀多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔徑檢測(cè)儀測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,金埃譜比表面及孔徑檢測(cè)儀測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),金埃譜比表面及孔徑檢測(cè)儀達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平,
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
孔隙度測(cè)定儀/孔隙度測(cè)定儀
測(cè)試方法及功能:真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測(cè)定
更新時(shí)間:
2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
比表面積及孔徑分布測(cè)試儀、全自動(dòng)比表面積及孔徑分布測(cè)試儀
國內(nèi)率先推出與國際接軌的全自動(dòng)型比表面及孔徑分析儀,多項(xiàng)f-sorb獨(dú)創(chuàng)技術(shù)已成為國內(nèi)其他廠商效仿的典范;目前國內(nèi)同類產(chǎn)品中,唯一實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化和智能化測(cè)試的同時(shí),保持高穩(wěn)定性和高測(cè)試精度的產(chǎn)品;
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
北京孔隙度測(cè)定儀
金埃譜科技是國內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
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北京比表面積及孔徑分布測(cè)試儀
獨(dú)特設(shè)計(jì)的抽氣及進(jìn)氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進(jìn)氣過程中的飛濺,確保測(cè)試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無損失,保護(hù)高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點(diǎn)和線性漂移;
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2025-06-23
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V-sorb 4800比表面及孔隙度分析儀價(jià)格
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑測(cè)定儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,金埃譜比表面及孔隙率檢測(cè)儀多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔隙率檢測(cè)儀測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,金埃譜比表面及孔隙率檢測(cè)儀測(cè)試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng),金埃譜比表面及孔隙
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
V-Sorb 2800P北京全自動(dòng)比表面積及孔隙度測(cè)定儀
樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理,樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命
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2025-06-23
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北京金埃譜科技有限公司
V-Sorb 4800P孔隙率測(cè)定儀/孔隙率測(cè)定儀
數(shù)據(jù)處理:windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表
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2025-06-23
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V-Sorb 2800P比表面積及孔徑分布測(cè)定儀、比表面積及孔徑分布測(cè)定儀
測(cè)試方法及功能:氮吸附靜態(tài)容量法,吸附及脫附等溫線測(cè)定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測(cè)定;
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