比表面分析儀產(chǎn)品及廠家
jw-bk122型經(jīng)濟型靜態(tài)比表面及微孔分析儀，jw發(fā)明專利，完全繼承jw系列孔徑分析儀所有技術(shù)特點，自主獨特創(chuàng)新。該款儀器核心硬件全部采用國際先進品牌，配備有“二級吸附泵技術(shù)”及小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用，完全實現(xiàn)了微孔的精確分析，測試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達到進口同類儀器水平，性價比極高，非常適合各大企事業(yè)單位納米粉體材料微孔、介孔、大孔的研發(fā)及生產(chǎn)檢測。
更新時間:2026-01-14
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更新時間:2026-01-14
jw-dx型動態(tài)吸附比表面測定儀，jw發(fā)明專利，創(chuàng)新的結(jié)構(gòu)，每個樣品單獨吸附，互不干擾，吸附峰尖銳，靈敏度大大提高，通過吸附峰直接對比得到比表面，測試準(zhǔn)確、穩(wěn)定，比表面下限降低一個數(shù)量級，非常適合電池正負(fù)極材料尤其是石墨等小比表面材料的檢測。（發(fā)明專利號201410320453.2）
更新時間:2026-01-14
jw-dx型動態(tài)吸附比表面測定儀，jw發(fā)明專利，創(chuàng)新的結(jié)構(gòu)，每個樣品單獨吸附，互不干擾，吸附峰尖銳，靈敏度大大提高，通過吸附峰直接對比得到比表面，測試準(zhǔn)確、穩(wěn)定，比表面下限降低一個數(shù)量級，非常適合電池正負(fù)極材料尤其是石墨等小比表面材料的檢測。（發(fā)明專利號201410320453.2）
更新時間:2026-01-14
jw-dx型動態(tài)吸附比表面測定儀，jw發(fā)明專利，創(chuàng)新的結(jié)構(gòu)，每個樣品單獨吸附，互不干擾，吸附峰尖銳，靈敏度大大提高，通過吸附峰直接對比得到比表面，測試準(zhǔn)確、穩(wěn)定，比表面下限降低一個數(shù)量級，非常適合電池正負(fù)極材料尤其是石墨等小比表面材料的檢測。（發(fā)明專利號201410320453.2）
更新時間:2026-01-14
jw-dx型動態(tài)吸附比表面測定儀，jw發(fā)明專利，創(chuàng)新的結(jié)構(gòu)，每個樣品單獨吸附，互不干擾，吸附峰尖銳，靈敏度大大提高，通過吸附峰直接對比得到比表面，測試準(zhǔn)確、穩(wěn)定，比表面下限降低一個數(shù)量級，非常適合電池正負(fù)極材料尤其是石墨等小比表面材料的檢測。（發(fā)明專利號201410320453.2）
更新時間:2026-01-14
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