其他產(chǎn)品及廠家
sf6 綜合測試儀是集 sf6濕度、sf6純度、sf6 分解產(chǎn)物測試于一體，將原來要用三臺儀器才能實現(xiàn)的功能，集中在一臺儀器一次現(xiàn)場測量，完成三項指標檢測，節(jié)省了設(shè)備中的氣體，減少用戶的工作量.采用國外的傳感器；濕度采用純進口高精度濕度傳感器、純度采用帶溫度補償?shù)臒釋鞲衅?，分解產(chǎn)物采用歐洲進口的傳感器。彩色液晶顯示，實時顯示各種參數(shù)全程觸控，傻瓜式操作，海量信息存儲，內(nèi)置充電電池，交直流兩用。
更新時間:2026-01-16
精度高：采用精密高壓薄膜電容和精密高壓玻璃釉電阻，輸入阻抗高，降低了測試電流，功耗小，提高了儀器的測量精度和穩(wěn)定性。信號處理部分，采用高性能op進行信號放大，運用雙積分式 ad采樣技術(shù)，四位半液晶顯示，最高分辨率達到0.001kv，是高壓靜電電壓表的更新?lián)Q代產(chǎn)品。操作簡單：采用撥碼開關(guān)切換高低壓、交直流，方便快捷。四位半液晶直接顯示測量結(jié)果，簡單直觀。為現(xiàn)場的檢測工作帶來極大的便利。
更新時間:2026-01-16
用于檢測電力線路中絕緣子的污穢附著情況，可一次測量絕緣子鹽密度和灰密度，簡化了絕緣子污穢檢測的流程，非常適合巡檢現(xiàn)場和實驗室使用。電力線路中絕緣子的污穢程度主要通過鹽密度（esdd）和灰密度的（nsdd）來表征，同時具備測量鹽密度和灰密度的功能。內(nèi)置了常用溶液體積、絕緣子型號，方便用戶直接調(diào)用，絕緣子型號與表面積支持用戶自定義，增加數(shù)據(jù)保存功能，保存十萬組測試數(shù)據(jù)，本機查看數(shù)據(jù)，支持u盤導出數(shù)據(jù)，
更新時間:2026-01-16
原裝進口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場更換，功能強大，可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流，無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2026-01-16
中央空調(diào)能量計用于測量及顯示熱交換回路中載熱液體所釋放（吸收）的冷熱量的計量器具，熱能表用法定計量單位顯示冷熱量。組成冷熱量表由積算儀、配對溫度傳感器、配對流量傳感器組成。
更新時間:2026-01-16
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差，超寬的頻帶范圍，使其可以測量被測信號的400次諧波（@45/65hz）。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應曲線，有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔，使其有著更寬的動態(tài)測試范圍.
更新時間:2026-01-16
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟實用，使用簡單，性價比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu)：纖細、柔軟的感應套環(huán)，讓您輕而易舉地與實際測量對象相連接。
更新時間:2026-01-16
電磁能量計,電磁智能能量計是一種基于法拉第電磁感應定律，以高速處理器為核心的高精度、低壓損能量計量儀表。系列采用分體式設(shè)計，適用于遠距離安裝、監(jiān)控，解決了采暖和中央空調(diào)在用戶范疇內(nèi)的熱量計量問題。流量傳感器、計算器各自沒有活動零部件，機械壽命長。
更新時間:2026-01-16
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭，這些探頭能感應耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號，當用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2026-01-16
特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新時間:2026-01-16
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180
更新時間:2026-01-16
商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機型：juki系列機型
更新時間:2026-01-16
bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器，具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準確測量速度≥1.5m/s,存 儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應急救災地完整配置.
更新時間:2026-01-16
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2026-01-16
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2026-01-16
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2026-01-16
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2026-01-16
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2026-01-16
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2026-01-16
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2026-01-16
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2026-01-16
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2026-01-16
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2026-01-16
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2026-01-16
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2026-01-16
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2026-01-16
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2026-01-16
hyperlynx si-pro是阿儀網(wǎng)面向pcie 6.0、224gbps及更高速率設(shè)計的全集成、智能化測試平臺。系統(tǒng)深度融合了高帶寬實時采樣、協(xié)議交互感知、信道損傷模擬三大核心能力，提供從物理層眼圖/sndr分析、抖動頻譜診斷到協(xié)議層fec效能驗證的一站式解決方案。平臺獨有的“時間戳穿透”技術(shù)，實現(xiàn)了協(xié)議事件與物理信號納秒級關(guān)聯(lián)，是解決高速系統(tǒng)設(shè)計瓶頸的工具。
更新時間:2026-01-16
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設(shè)計的性能驗證平臺，支持4266mbps高速測試，提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗證方案，重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時間:2026-01-16
阿儀網(wǎng) pcie 5.0 轉(zhuǎn)接卡信號質(zhì)量綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向高速接口卡設(shè)計與驗證的專用平臺。該系統(tǒng)深度整合了高精度矢量網(wǎng)絡(luò)分析（vna）、多通道高速示波器及自動化眼圖掃描與分析軟件，提供從通道s參數(shù)建模到壓力眼圖測試的全套解決方案。它能夠評估轉(zhuǎn)接卡在32 gt/s速率下的插入損耗、回波損耗、阻抗連續(xù)性及眼圖裕量，幫助工程師快速定位設(shè)計缺陷，量化優(yōu)化效果，是確保轉(zhuǎn)接卡設(shè)計一次成功的關(guān)鍵工具
更新時間:2026-01-16
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2026-01-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2026-01-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2026-01-16
面對2026年以pcie 6.0為首的高速測試挑戰(zhàn)，阿儀網(wǎng)推出 hyperlink pcie6-si pro一體化測試系統(tǒng)。本系統(tǒng)深度融合了高帶寬示波器、精密誤碼儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析模塊及自動化協(xié)議分析軟件，提供從物理層s參數(shù)建模、pam4眼圖/sndr分析、接收機壓力容限測試到協(xié)議一致性驗證的全套解決方案
更新時間:2026-01-16
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2026-01-16
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2026-01-16
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2026-01-16
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2026-01-16
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2026-01-16
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2026-01-16
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2026-01-16
最新產(chǎn)品
- 方糖硬度測試儀 GB/T35888-2018 香脂糖硬度檢測儀 硬度測定儀 2026/1/16 13:35:36
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