元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家
spi測(cè)試，硬件測(cè)試服務(wù)，信號(hào)完整性測(cè)試，電源完整性測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-18
cx- zb-5 用途：廣泛用于石英鐘表工業(yè)屆的精密測(cè)量的儀器,主要用于測(cè)量鐘表用的石英晶體頻率的精度,及測(cè)量各類石英鐘表,主機(jī)板,pda,dsc,筆記本電腦時(shí)間準(zhǔn)確度的儀器.
更新時(shí)間:2025-07-18
三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀氧化鋅避雷器帶線測(cè)試儀是用于檢測(cè)氧化鋅避雷器電氣性能的用儀器，該儀器適用于各種電壓等的氧化鋅避雷器的帶電或停電檢測(cè)，從而及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部絕緣受潮及閥片老化等危險(xiǎn)缺陷。
更新時(shí)間:2025-07-18
usb3.0、usb2.0一致性測(cè)試、lfps測(cè)試、lfps測(cè)試、眼圖與抖動(dòng)測(cè)試、ssc測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-18
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備本儀器系統(tǒng)由：電磁鐵、電磁鐵電源、＊精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件。
更新時(shí)間:2025-07-17
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售（u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board）
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元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（eda）中，從實(shí)際的元器件（如電阻、電容、晶體管等）或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過(guò)程。這一過(guò)程通常用于電路仿真，以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2025-07-17
qt2a半導(dǎo)體管特性圖示儀可根據(jù)需要測(cè)量半導(dǎo)體二極管、三極管的低頻直流參數(shù)，最大集電極電流可達(dá)50a， 基本滿足功率500w以下的半導(dǎo)體管的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-07-17
hvp系列大電壓脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，z大脈沖電壓達(dá)3000v，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中。大電壓源表適用于各行各業(yè)使用者，特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
更新時(shí)間:2025-07-16
led必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為i-v特性。通過(guò)對(duì)led電特性的測(cè)試，可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓（vf）、反向電壓（vr）及漏電流（ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的i-v曲線。led管iv測(cè)試數(shù)字源表找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2025-07-16
ldo常用的電性能參數(shù)測(cè)試，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于ldo的測(cè)試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù)，因此一般情況下，測(cè)試系統(tǒng)至少需要配置2臺(tái)smu，并采用上位機(jī)軟件(psssmutools)進(jìn)行控制，源表應(yīng)用之ldo芯片電學(xué)特性測(cè)試找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2025-07-16
led必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為i-v特性。通過(guò)對(duì)led電特性的測(cè)試，可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓（vf）、反向電壓（vr）及漏電流（ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的i-v曲線。常用的測(cè)試方法一般為在led器件的兩端，加電壓測(cè)試電流，或者加電流測(cè)試電壓，led電性能測(cè)試數(shù)字源表找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2025-07-16
pl系列 vcsel測(cè)試設(shè)備是針對(duì)大功率激光器liv測(cè)試而研制的，觸摸顯示屏全圖形化操作，高靈敏度寬帶光功率檢測(cè)，內(nèi)置liv測(cè)試軟件加速用戶完成測(cè)試，具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流大、支持脈沖光功率檢測(cè)等功能
更新時(shí)間:2025-07-16
普賽斯儀表氣敏電阻電性能測(cè)試數(shù)字源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測(cè)量：半導(dǎo)體ic或元器件，功率器件，傳感器，有機(jī)材料與納米材料等特性測(cè)試和分析。
更新時(shí)間:2025-07-16
數(shù)字源表iv測(cè)試氣敏電阻找武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，普賽斯s型數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)，單通道，不支持脈沖輸出，觸摸屏操作，支持多種通訊方式，rs-232、gpib及以太網(wǎng)；z大輸出電壓達(dá)300v，z小測(cè)試電流達(dá)100pa，支持usb存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告，s系列源表價(jià)格優(yōu)勢(shì)明顯；
更新時(shí)間:2025-07-16
pl系列vcsel測(cè)試系統(tǒng)是為大功率激光器liv測(cè)試而研制的，大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時(shí)發(fā)熱嚴(yán)重，而激光器受溫度影響非常大，直流或?qū)捗}沖下的測(cè)試結(jié)果并不能反映器件特性。
更新時(shí)間:2025-07-16
普賽斯功率器件cv測(cè)試儀主要由源表、lcr 表、矩陣開(kāi)關(guān)和上位機(jī)軟件組成。lcr表支持的測(cè)量頻率范圍在0.1hz~1mhz，源表(smu)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)加載在待測(cè)件
更新時(shí)間:2025-07-16
晶圓微電流測(cè)試數(shù)字源表是電學(xué)測(cè)試的必備儀器之一，是一種多用途儀器、特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、太陽(yáng)能電池、印刷電子技術(shù)等域
更新時(shí)間:2025-07-16
普賽斯igbt功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),集多種測(cè)量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測(cè)量igbt功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uq精確測(cè)量、na電流測(cè)量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。功率器件測(cè)試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-07-16
普賽斯儀表 開(kāi)發(fā)的 liv 測(cè)試系統(tǒng)采用 國(guó)產(chǎn) s 型數(shù)字源表 為核心，結(jié)合測(cè)試軟件以及第三方設(shè)備積分球探測(cè)器完成 ld 的 liv 測(cè)試。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、k靠性好、速度快，提高生產(chǎn)效率的同時(shí)也增加了測(cè)試精度和k靠性，并且降低了測(cè)試成本。
更新時(shí)間:2025-07-16
s系列多功能數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)，性價(jià)比高，測(cè)試范圍更廣，輸出電壓高達(dá)300v，支持usb存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出報(bào)告，符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求，可及時(shí)與客戶溝通，為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案，及時(shí)指導(dǎo)客戶編程，加速測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)
更新時(shí)間:2025-07-16
電化學(xué)循環(huán)伏安測(cè)試儀之s型觸摸屏數(shù)字源表是對(duì)可充電電池的充電和放電循環(huán)進(jìn)行測(cè)試的理想工具，因?yàn)樗哂衘確地4象限、高功率輸出，能夠j確地測(cè)量電流和電壓。利用單一儀器進(jìn)行電池測(cè)試，不僅簡(jiǎn)化測(cè)試設(shè)置，縮短編程時(shí)間，而且節(jié)省機(jī)架空間。
更新時(shí)間:2025-07-16
鋰電池充放電特性參數(shù)測(cè)試源表是對(duì)可充電電池的充電和放電循環(huán)進(jìn)行測(cè)試的理想工具，因?yàn)樗哂衘確地4象限、高功率輸出，能夠j確地測(cè)量電流和電壓。利用單一儀器進(jìn)行電池測(cè)試，不僅簡(jiǎn)化測(cè)試設(shè)置，縮短編程時(shí)間，而且節(jié)省機(jī)架空間。
更新時(shí)間:2025-07-16
源表用于微電子器件與材料實(shí)驗(yàn)，通過(guò)實(shí)驗(yàn)動(dòng)手操作，加深對(duì)半導(dǎo)體物理理論知識(shí)的理解，掌握半導(dǎo)體材料和不同器件性能的表征方法及基本實(shí)驗(yàn)技能，培養(yǎng)分析問(wèn)題和解決問(wèn)題的能力。
更新時(shí)間:2025-07-16
數(shù)字源表搭建半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)可以實(shí)現(xiàn)幾千到至幾萬(wàn)點(diǎn)的多參數(shù)自動(dòng)切換測(cè)量，系統(tǒng)由s系列國(guó)產(chǎn)源表，2700矩陣開(kāi)關(guān)和s型測(cè)試軟件等組成。可在不同的磁場(chǎng)、溫度和電流下根據(jù)測(cè)試結(jié)果計(jì)算出電阻率、霍爾系數(shù)、載流子濃度和霍爾遷移率，并繪制曲線圖。在半導(dǎo)體制程的晶圓基片和離子注入等階段，或者封裝好的霍爾器件需要做霍爾效應(yīng)的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-07-16
鋰電池漏電流測(cè)試儀器之s型數(shù)字源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的s先國(guó)產(chǎn)化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，z大輸出電壓達(dá) 300v ，小測(cè)試電流達(dá) 100pa ，支持四象限工作
更新時(shí)間:2025-07-16
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