hs-mwr-2s-3無(wú)接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命掃描儀,能夠?qū)尉Ч璋、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試,其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的,并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍:0.1-1000ω.cm,,是太陽(yáng)能電池硅片企
更新時(shí)間:2019-10-22